如今新兴产业的发展也进一步显示半导体检测的重要性。随着通信速度的加快，对基带和射频前端都带来了挑战。由于需要支持很多的模式，射频前端也将集成的模块如功率放大器，低噪声放大器（LNA），双工器和天线开关等，并将其封装在单个组件中。在设计及生产过程中，检测就变得很重要。只有准确测量组件的各个参数，才能相应的优化设计方案，及提升产品生产成功率。
　　对于半导体检测而言，虽然在批量生产、实验室、晶圆等环节都需要用到，相关环节也比较复杂，但是电性能测试则是为基本的环节。半导体器件或模组，在研发、设计及生产过程中，都少不了这个环节。
　　在电性能测试环节，目前测试方案就是源测量单元(SMU)。SMU是一种精密电源仪器，具备电压输出和测量以及电流输出和测量功能。这种对电压和电流的控制使您可以灵活地通过欧姆定律计算电阻和功率。可同时控制与量测电压、电流，主要为消费性电子产品、IC设计与验证等实验室提供电性能测试。
　　目前，市场上能够提供源测量单元(SMU)厂商也不少，相关产品也有很多。然而，并不是测试仪器越昂贵，测试准确性就越高。想要意义上掌握源测量单元(SMU)，要先清楚误差产生的原因，以及减小误差的途径。