金相法：
       采用金相显微镜检测横断面，以测量金属覆盖层、氧化膜层的局部厚度。一般厚度检测需要大于1um，才能保证测量结果在误差范围之内；厚度越大，误差越小。
       库仑法：
       适合测量单层和多层金属覆盖层厚度阳极溶解库仑法，包括测量多层体系，如Cu/Ni/Cr以及合金覆盖层和合金化扩散层的厚度。不仅可以测量平面试样的覆盖层厚度，还可以测量圆柱形和线材的覆盖层厚度，尤其适合测量多层镍镀层的金属及其电位差。测量镀层的种类为Au、Ag、Zn、Cu、Ni、dNi、Cr。
       X-ray方法：
       适用于测定电镀及电子线路板等行业需要分析的金属覆盖层厚度。 包括：金（Au），银（Ag），锡（Sn），铜（Cu），镍（Ni），铬（Cr）等金属元素厚度。
       本测量方法可同时测量三层覆盖层体系，或同时测量三层组分的厚度和成分。